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型號:PHI Genesis 900
型號:PHI 710
型號:PHI nano TOF3+
型號:PHI Genesis 500
型號:C60 40
型號:C60 20
型號:C60 20S
型號:GCIB 10S
以用戶為中心 以人才為根本 努力實現你我共贏
束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數據中心(ICDD)、德國Freiberg等實驗室分析儀器品牌的戰略合作,迅速成為業界儀器供應商。我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來高品質的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。束蘊儀器為各類客戶提供優質的實驗室和工業檢測儀器及過程控制設備,專業的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構、及工業企業。...
進一步提高公司的技術、質量和服務
X射線顯微CT技術是一種強大的成像工具,它使用X射線對樣品進行高分辨率的三維成像。這種技術在醫學、材料科學、地質學等領域都有廣泛的應用。盡管X射線顯微CT提供了很高的圖像質量和解析度,但其成像質量受到多種因素的影響。以下是一些主要的影響因素:1.X射線源的穩定性與質量-射線穩定性:X射線源的穩定性直接影響到成像質量。不穩定的X射線輸出可能導致圖像噪聲增加,降低圖像的清晰度和對比度。-射線質量:X射線的波長和能量水平決定了其穿透力。不同材質的樣品可能需要不同能量級別的X射線來優...
在現代科學技術的眾多奇跡中,X射線顯微成像系統無疑是一個引人注目的技術瑰寶。它利用X射線的強大穿透力,為我們提供了一個觀察微觀世界的全新窗口。這種系統不僅能透視固體材料的內部結構,而且能夠在不破壞樣品的前提下,揭示其復雜的內部構造和組成。X射線顯微成像系統基于X射線與物質相互作用時的吸收和散射現象。不同元素和化合物對X射線的吸收程度不同,利用這一性質,X射線顯微成像可以高對比度地顯示出不同材料的分布和邊界。通過旋轉樣品并從多個角度進行照射和檢測,可以得到足夠的數據重建出三維的...
隨著全球對清潔能源需求的日益增長,電池技術的進步成為推動這一轉變的關鍵因素之一。BrukerSkyScanX射線顯微鏡(XRM)因其在非破壞性高分辨率成像方面的優異表現,正在電池材料研發與質量控制中扮演著日益重要的角色。該技術的應用能夠提高電池性能、延長電池壽命,同時加速清潔能源的創新進程。BrukerSkyScanXRM是一種先進的3DX射線顯微成像技術,能夠對微米甚至納米級結構進行非破壞性觀察。這一技術結合了高分辨率、快速成像和深度分析能力,可以對復雜樣品的內部結構進行詳...
晶體學有時會讓人覺得很神奇,透過一個晶體,我們可以看到微觀的結構細節。但是晶體在肉眼下就只是晶體,沒有X射線我們就只能看著它,可能對它無從下手。而且晶體結構解析需要有一些已知的信息,不然我們就沒有辦法知道這里面會有什么。讓人失望的晶體做晶體實驗總是會遇到一些意想不到的情況,晶體的生長并不會按照我們的意愿進行。偶爾欣喜若狂地看到的晶體興許只是一些雜質,或者只是鹽罷了。如果你是做蛋白晶體的,你一定會十分沮喪,心情一定是180°的轉彎。記得讀書時發生過無數次這樣的情況,然而一般看到...
失效分析(FailureAnalysis)是探究元器件失效根源的重要手段,旨在為元器件設計、工藝、制造等流程提供改進方向,從而提升產品良率和可靠性。在失效分析中,經常遇到異形器件,其不規則的形狀與多元組件構成的特征尤為明顯,直接影響著產品的性能。值得注意的是,特征尺寸在微米/亞微米級別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰。一方面,受限于傳統分析設備的空間分辨能力,元器件微小特征的微區分析會遇到難以準確定位和準確分析的障礙,直接影響了測試結果的準確性。對此,PHI創新性推出了掃描...
以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態電解質的固態電池(SSB),具有高鋰離子電導率、低電子導電率(EC)、高機械和熱穩定性以及寬電化學窗口等特點,有望成為推動下一代儲能技術騰飛的“種子選手”。不過研究發現LLZO表面容易產生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻(厚度、成分差異)絕緣層,導致LLZO與金屬鋰的潤濕性較差,從而在充放電過程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成,嚴重影響LLZO-SSBs的電化學性能。為了增強固態電解質與金屬鋰的浸潤性,本...
在現代科學技術迅猛發展的今天,X射線顯微成像系統以其獨特的優勢,在材料科學、生物學、醫學等諸多領域發揮著越來越重要的作用。這種技術通過利用X射線的強大穿透力和高分辨率成像能力,為科學家們提供了一種非破壞性的方式,深入觀察和分析各種材料的微觀結構。X射線顯微成像系統基于X射線與物質相互作用時的吸收和相移特性。當X射線穿過樣本時,不同密度和厚度的區域會以不同的程度吸收X射線,從而形成一幅反映樣本內部結構的圖像。通過高精度的探測器和先進的圖像處理算法,顯微成像系統能夠將這種差別轉化...
離子濺射源,作為表面分析設備(如XPS、AES和TOF-SIMS)的重要組件之一,不僅能清潔樣品表面,還能輔助深度剖析,揭示樣品的內在結構。根據構成濺射離子的原子/分子個數,可將離子濺射源分為單離子源(如:Ar+、Xe+、O2+)和團簇離子源(如:C60、GCIB(GasClusterIonBeam))。其中,GCIB是由數百乃至數千個氣體原子/分子(如Ar-GCIB)組成的離子束,它能夠以極低的單原子能量進行蝕刻,實現樣品表面的平坦化效果。正因如此,GCIB在有機物刻蝕方面...
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